Icos Vision neemt wafer-inspectie van Siemens over

Het Belgische technologiebedrijf Icos Vision Systems heeft de wafer-inspectie business van de Duitse elektronicagigant Siemens overgenomen. Met de overname is een bedrag gemoeid van 6,25 miljoen euro in cash.

Icos verwerft hierdoor de rechten op de technologie en alle activa van Siemens op het vlak van 2D wafer-inspectie. De waferinspectiesystemen die ontwikkeld zijn door Siemens, kunnen defecten tot 0,2 micron detecteren op wafers, de kleine schijfjes silicium waarop halfgeleiderschakelingen worden geëtst.”Door deze overname betreedt Icos de markt van 2D wafer-inspectiesystemen”, zegt Anton De Proft, bestuursvoorzitter en CEO van Icos. Icos heeft zelf namelijk 3D-inspectiesystemen ontwikkeld. Het bedrijf is nu van plan om die technologie te integreren in de 2D-technologie van Siemens, zodat het ook het marktsegment kan bedienen dat een combinatie van de twee inspectiesystemen vereist.Icos Vision Systems werd in 1982 opgericht als een spin-off van de KU Leuven. Het hoofdkantoor is gevestigd in Heverlee, maar de onderneming beschikt daarnaarst ook over R&D-centra in België, Duitsland en Hong Kong, en over verkoop- en ondersteuningskantoren in Japan, de Verenigde Staten, Singapore, Hong Kong en Korea.